Продажа и поддержка :
Главная страница ПродукцияАнализатор спектрометра

Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

    • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement
    • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement
    • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement
    • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement
    • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement
    • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement
  • Si-Pin XRF Coating Thickness Analyzer, Spectro Plating Thickness Tester, XRF Coating Thickness Measurement

    Подробная информация о продукте:

    Place of Origin: China
    Фирменное наименование: DahoMeter
    Сертификация: CE,Rohs,FCC
    Model Number: DX-6600

    Оплата и доставка Условия:

    Minimum Order Quantity: one set
    Цена: USD999 to USD16999
    Packaging Details: standard exporting wooden package
    Delivery Time: 5 to 8 working days
    Payment Terms: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
    Supply Ability: 300 sets per month
    Контакт
    Подробное описание продукта
    Detector: Si Pin/SDD (optional) Resolution: Si - pin145 + 5 ev /SDD135 + 5 ev (USA)
    Multichannel analyzer: DMCP ROHS analysis common elements: Pb, Hg, Br, Cr, Cd, Ba, Sb, As..Etc.

    Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий XRF

     

     

    RoHS - это обязательный стандарт, установленный законодательством ЕС, полное название которого - "Об ограничении использования определенных опасных веществ в директиве об электрическом и электронном оборудовании (Ограничение опасных веществ)". Этот стандарт вступил в силу 1 июля 2006 года и формально реализован, в основном используется для спецификации материалов и стандартов производства электрических изделий, что делает его более благоприятным для здоровья человека и защиты окружающей среды. Цель этого стандарта - исключить из электрических и электронных изделий свинец, ртуть, кадмий, шестивалентный хром, полибромированные бифенилы (PCBS) и полибромированные дифениловые эфиры, всего 6 веществ, и ключевым моментом является указание на то, что содержание свинца не должно превышать 0,1%. Новая директива 2011/65/EU RoHS (2.0), заменяющая новую директиву 2002/95/EC (RoHS), вступит в силу 21 июля 2011 года. Сравнение между RoHS2.0 и RoHS, основные изменения следующие:

     

     

    Метод обнаружения токсичных и вредных веществ в электронных изделиях (далее - метод испытаний, номер стандарта SJ/T 11365-11365) вредных элементов в требованиях RoHS, учитывая ограниченный метод испытаний. Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (XRF) как один из самых быстрых и удобных методов разработана для метода быстрого скрининга. Использование рентгенофлуоресцентной спектрометрии (XRF) свинца (Pb), ртути (Hg), кадмия (Cd), хрома (Cr) и соответствующих стандартов брома (Br) пяти элементов для точного тестирования образца. Но только на основе принципа содержания элементов XRF, то есть, если этот скрининговый тест для хрома (Cr) или содержания брома (Br), даже если они имеют избыточный вес, также не представляет собой вредные вещества (Cr VI) и антипирен PBB и PBDE), результаты испытаний (содержащие) содержат только соответствующие необходимые условия, а не достаточные условия для опасных веществ. Это ограничение без этих двух видов вредных веществ в таблице не является квалифицированной предельной оценкой.

     

     

    XRFПреимущества и характеристики серии анализаторов ROHS:

     

    * Высокое разрешение, камера высокой четкости, удобство эксплуатации

    * Неразрушающее, быстрое и точное обнаружение, человеческий интерфейс

    * Сердце Европы, все основные технологии из Европы и Америки

    * Простота использования, управление одной кнопкой, результаты анализа ROHS для каждого элемента

    * Инновационные функции тестирования образцов покрытий

    * Компактная структура, очень красивый внешний вид, подходит для размещения в выставочном зале

    * Нажмите кнопку в течение нескольких секунд, чтобы получить точные результаты химического состава образцов

    * Использование ПК и программного обеспечения позволяет быстро и удобно выдавать сертификат результатов проверки образцов

    * Камера и система освещения кабины, просмотр тестирования образцов в реальном времени, достижение достаточно хорошего знания

    * Данные тестирования анализатора можно загружать и выгружать, результаты сетевого обнаружения легко просматривать и делиться ими

    * И надежный поток питания и защита от короткого замыкания, надежно обеспечивают безопасность пользователя

    * Автоматическая система управления тестированием, надежная гарантия использования клиентами

     

    XRFПроизводительность и преимущества оборудования анализатора ROHS

     

    Неразрушающий, быстрый и точный

    Высокая точность, высокое разрешение, высокая надежность

     

    Производительность и конфигурация прибора

     

    Анализ 1 PPM до 100%
    Точность RSD 0,01% ~ 0,05%
    Физическое состояние тестовых образцов состояние твердого, жидкого и порошкообразного
    Напряжение световой трубки 5 кВ ~ 50 кВ / опциональная импортная световая трубка
    Высоковольтный источник питания 0 ~ 50 кВ Spellman (США)
    Ток управления светом 0 мкА ~ 1000 мкА
    Камера, камеры высокой четкости
    Детектор Si Pin/SDD (опционально)
    Разрешение Si - pin145 + 5 эВ / SDD135 + 5 эВ (США)
    Многоканальный анализатор DMCP
    Время тестирования 200 сек ~ 600 сек
    Общие элементы анализа ROHS Pb, Hg, Br, Cr, Cd, Ba, Sb, As..Etc.
    Программное обеспечение для анализа FP качественное количественное программное обеспечение для анализа
    Размеры 615*418*315 (мм)
    Вес: 45 кг
    Требования к питанию: Предоставлено 220 В переменного тока, 50 Гц до 60 Гц, источник питания 300 Вт
    Источник возбуждения 50 Вт, 50 кВ, 1000 мкА (макс.)
    Детектор: Si-PiN диодный детектор Si дрейфовый детектор
    Диапазон температур окружающей среды: -10°C to 50 °C

     

    Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФААнализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

     

     

    • Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

    Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

    Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

    Анализатор толщины покрытий Si-Pin XRF, тестер толщины покрытий Spectro, измерение толщины покрытий методом РФА

     

    Контактная информация
    Guangdong Hongtuo Instrument Technology Co,Ltd

    Контактное лицо: Mr. zhong

    Телефон: +8613267004347

    Факс: 86-769-23181253

    Оставьте вашу заявку (0 / 3000)

    Другие продукты